第二节 干涉显微镜
干涉显微镜分为双光束和多光束两类，通常测定工件加工光洁度及高度差约为1/10, 波长的显微组织可采用双光束干涉显微镜，林尼克干涉显微镜即属这一类。而多光束干涉显微镜能显示试样表面相邻两点为1/1000 波长的高度差，因此在金相组织的分析中有重要意义。
一、双光束干涉显微镜
二、多光束干涉显微镜
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发布日期：2010-09-09
第二节 干涉显微镜
干涉显微镜分为双光束和多光束两类，通常测定工件加工光洁度及高度差约为1/10, 波长的显微组织可采用双光束干涉显微镜，林尼克干涉显微镜即属这一类。而多光束干涉显微镜能显示试样表面相邻两点为1/1000 波长的高度差，因此在金相组织的分析中有重要意义。
一、双光束干涉显微镜
二、多光束干涉显微镜
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