Cu-Al-Mg合金表面氧化膜分析
潘奇汉
(北京有色金属研究总院， 北京100088)
摘 要: 利用俄歇能谱、 X射线电子能谱和扫描电镜对Cu-Al-Mg合金表面氧化膜进行了分析。结果表明： 氧化膜由MgO和Al2O3组成;没有进行过氧化处理的样品膜内的Al和O含量高于进行过氧化处理的样品，而Mg则相反; Al2O3的键合能E2p3/2值大于MgO的E2p3/2值，表明Al2O3不易被分解;进行电子轰击后，膜内Mg含量减少， MgO被部分分解，而Al则增加。 由MgO和Al2O3组成的复合型氧化膜使得合金既具有高的二次电子发射系数又有长的寿命，因此，Cu-Al-Mg合金是一种理想的二次电子发射材料。
